試験装置の開発・製造

小型軽量の卓上型　配線パターン･オープン／ショートチェッカーから画像処理技術を用いた自動部品外観試験装置まで、お客様のご要望に応じた様々な試験装置を開発･製造しております。また今まで培ってきたネットワーク専門技術を活用して、試験データをIPネットワーク経由でサーバへ蓄積したり、遠隔からのリモート操作等の対応も可能です。是非一度ご相談ください。

試験装置の開発に際して

画像試験装置のカメラ選定、照明選定、レンズ選定、運搬機構設計など試験装置の全てを製作いたします。
さまざまな画像処理技術を組み合わせて試験内容に適した装置をご提供致します。
ユーザインターフェースはお客様の使用する状況に応じてカスタム設計可能です。
余分な機能は除き、お客様の目的に絞った試験内容に特化するため短納期対応が可能です。また汎用の試験装置に比較して安価です。

開発実績例

• 多品種対応のパターン･オープン／ショートチェッカー
• パターン上に実装された抵抗値、コンデンサ容量、LED Vf測定、LED輝度測定等のアナログ試験の他、I2C,SPIインタフェースにてデバイスの機能確認が行える卓上型汎用チェッカー
• 下記の画像処理技術を応用した部品やパターンの欠け、寸法誤差、メッキ不良、付着、変色、コンタミ、キズ、バリ等を検出する自動外観試験装置。
  １． エッジ検出
  ２． 2値化処理
  ３． 粒子解析
  ４． 粒子マスク
  ５．オブジェクト拡大･縮小
  ６．クランプ
  ７．マスク
  ８．ヒストグラム
  ９．パターンマッチング
• FPCの屈曲回数やスイッチなどのON/OFF回数等の耐久性を試験する耐久試験機。
• 数十本束ねられた細い線材の芯線数を確認する試験装置
• SMTのワイヤボンディング不良、断線･配線異常等を検出する試験装置